新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實(shí)驗(yàn)室材料表征研究推向一個(gè)新高度。超快的樣品切換和增強(qiáng)的自動(dòng)化功能使LVEM 25E成為常規(guī)成像應(yīng)用中十分實(shí)用且易用的工具。新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E能從標(biāo)準(zhǔn)制備的樣品中獲得對(duì)比度好、細(xì)節(jié)豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細(xì)節(jié)水平的圖像。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-04-18

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

表面成像分析

磁學(xué)顯微鏡紅外光譜儀顯微鏡干涉儀/位移臺(tái) 殘余應(yīng)力高光譜電鏡近場(chǎng)光學(xué)

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新一代低電壓透射電子顯微鏡-LVEM 25E

——TEM、STEM、SEM、EDS和ED五種模式

LVEM 25E是Delong公司推出的新一代低電壓透射電子顯微鏡，配備了五種成像和分析模式，把實(shí)驗(yàn)室材料表征研究推向一個(gè)新高度。超快的樣品切換和增強(qiáng)的自動(dòng)化功能使LVEM 25E成為常規(guī)成像應(yīng)用中十分實(shí)用且易用的工具。LVEM 25E能從標(biāo)準(zhǔn)制備的樣品中獲得對(duì)比度好、細(xì)節(jié)豐富的圖像，并能在減少染色的情況下獲得同等細(xì)節(jié)水平的圖像。

LVEM 25E不僅可以測(cè)量?jī)?nèi)部和外部結(jié)構(gòu)，還可以分析樣品的化學(xué)成分，所有這些功能均在一臺(tái)設(shè)備上完成。先進(jìn)的軟件設(shè)計(jì)，可通過自動(dòng)設(shè)置鏡筒對(duì)中和光闌位置來協(xié)助用戶分析樣品。

五種成像模式

☆ 配備TEM、STEM、SEM、EDS和ED模式

☆ 通過直觀的軟件輕松切換成像模式

☆ TEM和STEM模式下的明場(chǎng)和暗場(chǎng)測(cè)量

☆ SEM模式（BSE）用于表面測(cè)量

☆ 能量色散光譜（EDS）用于元素分析

☆ 電子衍射（ED）用于了解晶體結(jié)構(gòu)

*集成和緊湊的設(shè)計(jì)

☆ 設(shè)計(jì)緊湊、節(jié)省空間

☆ 幾乎可以在任何實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行單插頭安裝

☆ 沒有特殊的設(shè)施要求（不需要冷卻、電源或防震隔離）

對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的高對(duì)比度和分辨率