EMPX-H2低溫磁場探針臺

產(chǎn)品簡介

Lake Shore的EMPX-H2探針臺增加了一個±0.6 T水平方向磁場的電磁鐵，所有標(biāo)準(zhǔn)的C-V、I-V、微波和電光探測，加上面內(nèi)水平場電磁測量，都可以在EMPX-H2探針臺上進行。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2024-04-18

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

低溫物理設(shè)備

傳感器探針臺超導(dǎo)磁體、電源、液面計等低溫成像設(shè)備制冷機設(shè)備位移臺系列設(shè)備低溫恒溫器磁電測量設(shè)備

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Lake Shore的EMPX-H2探針臺增加了一個±0.6 T水平方向磁場的電磁鐵，所有標(biāo)準(zhǔn)的C-V、I-V、微波和電光探測，加上面內(nèi)水平場電磁測量，都可以在EMPX-H2探針臺上進行。研究人員可以使用EMPX-H2來測試磁輸運參數(shù)，ST-FMR測試等。它是Lake Shore探針臺中用于矢量相關(guān)磁輸運測量的低溫探針臺。

為了最大限度地提高樣品磁場，EMPX-H2的探針配置為30°傾角，用于探測直徑達25mm（1英寸）的晶圓片。360°旋轉(zhuǎn)樣品臺選項允許測量角度相關(guān)和各向異性的磁輸運特性。EMPX-H2在4.5 K至400 K的溫度范圍內(nèi)運行，配置低溫選件可將基本溫度擴展至3.2 K。EMPX-H2采用連續(xù)流制冷，可使用液氦或液氮進行冷卻。

主要特征：

√ 溫度范圍4.5 K~400 K

√ 可選低溫3.2 K

√ 水平磁場±0.6 T

√ 最大1英寸（25.4 mm）樣品

√ 無需系統(tǒng)降溫即可施加磁場

√ 樣品360°旋轉(zhuǎn)磁各向異性測試

設(shè)備參數(shù)：

磁場
磁體類型	電磁鐵
磁場方向	水平方向（平行于樣品面）
磁場控制	霍爾探頭安裝在探針臺內(nèi)用于磁場閉環(huán)控制
磁場大小	最大±6 kOe (±0.6 T)
磁場均勻性	0.6% 10 mm直徑；2.6% 25 mm直徑
探針針尖移動	<5 μm 整個磁場范圍內(nèi)
溫度范圍
最多安裝4個探針臂	基礎(chǔ)溫度4.5 K，控制溫度范圍5 K~400 K
安裝PS-LT低溫選件	基礎(chǔ)溫度3.2 K，控制溫度范圍3.3 K~400 K
溫度穩(wěn)定性	液氦	液氮
基礎(chǔ)溫度 (無加熱控制)	±20 mK	±50 mK
<10 K	±50 mK	—
10 K ~ 100 K	±50 mK	±100 mK
101 K ~ 250 K	±50 mK	±100 mK
251 K ~ 400 K	±50 mK	±100 mK
真空	以TPS-FRG分子泵為標(biāo)準(zhǔn)
抽真空時間	30 min (<1 × 10^-3Torr)
室溫	<5 × 10^-4 Torr
基礎(chǔ)溫度	<1 × 10^-5 Torr
最高溫度	<5 × 10^-3 Torr
循環(huán)時間
總循環(huán)	3 h
抽真空	0.5 h
探針臺冷卻	1.25 h
探針臺升溫	1.25 h
樣品
最大尺寸	51 mm(2英寸)
樣品背光接口	不可選
樣品旋轉(zhuǎn)	360°樣品旋轉(zhuǎn)選件(PS-360-EMPX)
樣品振動	＜300 nm 標(biāo)準(zhǔn)
探針配置
最大探針數(shù)	4
探針臂溫度計	用于監(jiān)視探針臂的溫度
冷卻探針支架	＜20 K(樣品在基礎(chǔ)溫度下)
探針支架	連接樣品臺熱沉
探針臂支架	連接防輻射屏熱沉
DC/RF探針	電絕緣>100GΩ用于低漏電流測量
微波探針	頻率范圍從DC到67GHz
光纖探針	可用于電光測量
落針范圍	所有探針均可在直徑為 25.4 毫米（1 英寸）的圓內(nèi)落針