技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES研發(fā)背景:
在使用傳統(tǒng)的原子力顯微鏡(AFM)對(duì)大型工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行形貌表征時(shí),由于受到傳統(tǒng)AFM樣品臺(tái)尺寸的限制,首先需要對(duì)工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行一定程度的破壞來(lái)提取一個(gè)可放置在AFM上的樣品,再對(duì)該樣品進(jìn)行形貌表征。然而,一些工業(yè)產(chǎn)品如果對(duì)其提取樣品,會(huì)帶來(lái)災(zāi)難性的后果,如飛機(jī)機(jī)翼,各類發(fā)動(dòng)機(jī)和車船軸承。同時(shí),對(duì)于大型工業(yè)產(chǎn)品而言表面形貌表征往往是分析材料失效,斷裂分析和表面保護(hù)等領(lǐng)域重要的檢測(cè)手段。
為了解決這一問(wèn)題,加拿大ICSPI公司設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的便攜式Vertex原子力顯微鏡(AFM),基于其研發(fā)的芯片式自感應(yīng)探針技術(shù),擺脫了傳統(tǒng)AFM對(duì)激光的依賴,帶給了傳統(tǒng)AFM革命性的變化! Vertex便攜式芯片原子力顯微鏡(AFM)具有小巧靈活、方便攜帶,操作簡(jiǎn)單,掃描速度快,可直接掃描工業(yè)產(chǎn)品,無(wú)需維護(hù)、無(wú)需減震、超級(jí)穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn),適合各類工業(yè)產(chǎn)品的表面檢測(cè)和野外作業(yè)等場(chǎng)景的3D表面形貌快速成像分析。Vertex AFM所采用的創(chuàng)新技術(shù)很大程度上降低了傳統(tǒng)AFM的復(fù)雜操作,也拓寬了傳統(tǒng)AFM的應(yīng)用范圍!
圖1. Vertex便攜式芯片原子力顯微鏡(AFM)實(shí)物圖。左圖Vertex便攜式原子力顯微鏡,右圖為Vertex核心的壓電掃描探針。 |
Vertex便攜式原子力顯微鏡(AFM)特點(diǎn):
可直接掃描大型工業(yè)產(chǎn)品
研發(fā)的AFM微納機(jī)電芯片技術(shù),使得Vertex原子力顯微鏡(AFM)可以在大尺寸工業(yè)產(chǎn)品上直接進(jìn)行形貌掃描,無(wú)需進(jìn)行破壞性制樣。
便攜,簡(jiǎn)單,易用
Vertex自帶電池電源,可通過(guò)無(wú)線信號(hào)對(duì)Vertex進(jìn)行操作,設(shè)備方便攜帶,尺寸僅為20 x 15 x 10 cm,僅需三步就可對(duì)樣品進(jìn)行納米級(jí)表面形貌表征。
更高性價(jià)比
掃描速度快,可掃描大尺寸樣品。一個(gè)針尖可以進(jìn)行上千次掃描,無(wú)需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護(hù)工作。
應(yīng)用場(chǎng)景:
航空設(shè)備 | 管道設(shè)備 |
車輛設(shè)備 | 工業(yè)設(shè)備 |
設(shè)備參數(shù):
尺寸: 20 x 15 x 10 cm
成像模式: 輕敲模式(Tapping)
成像結(jié)果: 形貌圖, 相位圖
X-Y-Z單次掃描范圍: 20 x 20 x 10 μm
分辨率: < 0.5 nm
掃描速度: 80 sec
分辨率高達(dá): 1024 x 1024 pixels
無(wú)線連接協(xié)議: WIFI 802.11n, Bluetooth 5
自身電池容量: 12,000 mWh
充電電源需求: 110-240 VAC
操作系統(tǒng)要求: Windows 10, 11
相關(guān)產(chǎn)品:
Copyright © 2024QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào):京ICP備05075508號(hào)-3
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml