技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES自W. C. Röntgen于1895年發(fā)現(xiàn)X射線以來,X射線應(yīng)用技術(shù)得到了長足發(fā)展,包括X射線衍射、吸收、散射、熒光及光電子譜學(xué)等(圖1a)。其中Maurice de Broglie在1913年測到了X射線吸收邊, 1920年Friche和Hertz發(fā)現(xiàn)了X射線精細結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure),但直到上世紀七十年代Sayers、Stern和Lytle開創(chuàng)性地通過傅里葉變換從X射線吸收譜中得到了詳細結(jié)構(gòu)參數(shù),短程有序理論(SRO)才被人們所廣泛接受。隨著同步輻射光源(Synchrotron X-ray light sources)的大量應(yīng)用,XAFS技術(shù)(圖1b,包含XANES(X-ray absorption near-edge structure)和EXFAS (Extended X-ray absorption fine structure ))才逐漸發(fā)展成為種非常實用的結(jié)構(gòu)分析方法。由于XAFS對中心吸收原子的局域結(jié)構(gòu)(尤其是在0.1 nm范圍內(nèi))及其化學(xué)環(huán)境十分敏感,因而可以在原子尺度上給出某征原子周圍幾個臨近配位殼層的結(jié)構(gòu)信息,包括配位原子種類及其與中心原子的距離,配位數(shù),無序度等,被廣泛應(yīng)用于物理,化學(xué),材料,生物和環(huán)境科學(xué)等域,解決了系列重大科學(xué)問題。
圖1. X射線應(yīng)用技術(shù)概括及XAFS技術(shù)分類
然而,由于XAFS技術(shù)通常依賴于同步輻射X射線光源, 而其不像其他設(shè)施容易被大眾所獲得,大大地限制了XAFS技術(shù)在各域的大范圍應(yīng)用。近年來實驗室用臺式XAFS譜儀的出現(xiàn),使得在實驗室日常使用XAFS技術(shù)進行材料的精細結(jié)構(gòu)分析成為了可能。2013年*實驗室用臺式XAFS譜儀誕生于美國華盛頓大學(xué)物理系Gerald T. Seidler教授課題組,并于2015年成立了easyXAFS公司,致力于實驗室用臺式XAFS譜儀的推廣和應(yīng)用。臺式XAFS譜儀采用了*的X射線單色器設(shè)計,無需使用同步輻射光源,在常規(guī)的實驗室環(huán)境中即可實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)的測量和分析,以*的靈敏度和光源質(zhì)量,得到了可以媲美同步輻射水平的X射線吸收譜圖,實現(xiàn)對元素的定性和定量分析,價態(tài)分析,配位結(jié)構(gòu)解析等。
美國easyXAFS公司的臺式XAFS/XES譜儀其工作原理如圖2a所示,光路圖為:X射線源---球面彎曲晶體(SBCA)---X射線探測器(SDD)。其有的羅蘭環(huán)單色器工作原理如圖2b所示,X射線源和SDD探測器均設(shè)有滑動桿,在X射線照射過程中,兩者可以隨之進行滑動調(diào)節(jié),其中滿足布拉格方程的單色X射線被SBCA重新匯聚于羅蘭環(huán)的另點,并被X射線探測器檢測和收集, 從而獲得不同能量的單色X射線。
圖2. (a)XAFS/XES譜儀光路圖;(b)羅蘭環(huán)單色器工作原理圖
美國easyXAFS公司的臺式XAFS/XES譜儀具有以下點:
1. 臺式設(shè)計,可以在實驗室內(nèi)隨時滿足日常使用(如圖3)
圖3. 臺式實驗室用XAFS/XES譜儀實物圖
2. LabVIEW軟件腳本控制,附帶7位自動樣品輪, 可以同時進行多個樣品或樣品參數(shù)條件下的測試 (如圖4)
圖4. 臺式實驗室用XAFS/XES譜儀內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖及7位自動樣品輪圖
3. 可集成輔助設(shè)備,控制樣品條件,適用于對空氣敏感的樣品的檢測或些原位測試,如原位的鋰電池或電催化實驗測試,監(jiān)測電/催化材料的結(jié)構(gòu)變化(如圖5)
圖5. 手套箱內(nèi)集成的臺式實驗室用XAFS/XES譜儀實物圖
4. 臺式XAFS/XES譜儀具有XAFS和XES兩種工作模式,可快速切換,滿足不同科研試驗需求(如圖6所示)
圖6. 臺式XAFS/XES譜儀(a)XAFS及(b)XES工作實物及光路示意圖(插圖)
5. 臺式XAFS/XES譜儀測得的譜圖效果可以媲美同步輻射數(shù)據(jù),如圖7所示,其測得的Ni元素的EXAFS, Ce和U元素的L3-edge的XANES譜圖數(shù)據(jù)與同步輻射光源譜圖效果*致
圖7. 臺式XAFS/XES譜儀與同步輻射光源測得的(a, b)Ni EXAFS, (c)Ce和U L3-edge XANES譜圖數(shù)據(jù)對比
6. 多種型號和配置可選,滿足不同科研要求
7. 操作便捷,維護成本低,安全可靠
美國easyXAFS公司的臺式XAFS/XES譜儀已擁有眾多的用戶,應(yīng)用域包括材料、化學(xué)、催化、能源和環(huán)境等等,相關(guān)成果發(fā)表在J. Am. Chem. Soc., J. Phys. Chem. C, Chem. Mater., Anal. Chem.等重要期刊。相關(guān)案例如下:
美國華盛頓大學(xué)化學(xué)系的Brandi M. Cossairt課題組使用easyXAFS公司實驗室臺式XAFS譜儀對溶液相合成的金屬磷化物產(chǎn)物的Co元素進行K邊XANES譜圖分析(圖8),十分便捷地獲得了合成產(chǎn)物的價態(tài)信息,通過與標準樣品譜圖對比,十分準確快捷的對合成產(chǎn)物的物相組成(CoP或Co2P)給出了鑒別,與其他方法獲得的信息高度致,如XRD,NMR等。
圖8. 金屬磷化物的(a)合成機理圖,(b)透射電鏡TEM照片,(c)不同Co化合物的X射線衍射譜以及(d)臺式XAFS/XES譜儀測得的不同化合物的Co K-edge XANES譜圖
除此之外,X射線發(fā)射譜(XES,X-ray emission spectroscopy), 又可稱為波長色散X射線熒光譜(WDXRF,Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectroscopy),通過對定元素內(nèi)層電子受激發(fā)后外層電子弛豫過程中發(fā)射的X射線熒光能量和強度進行分析,也可以的給出分析原子的氧化態(tài),自旋態(tài),共價,質(zhì)子化狀態(tài),配體環(huán)境等信息。由于不依賴于同步輻射,且得益于有的單色器設(shè)計,可以在實驗室內(nèi)實現(xiàn)高分辨寬角高通量的XES元素分析(包括P, S, V,Zn, Cr, Ni, As, U, etc. )。如圖9所示,通過對不同化合物中P元素的征Kα和Kβ軌道能的XES譜圖進行定性和定量,可以方便的得到InP量子點中的P元素價態(tài)及表面缺陷信息,相比于NMR等技術(shù)更加簡單方便。其他的實例(如圖10)還包括使用征S元素的 Kα XES譜圖對不同生物炭中的低含量S元素進行不同價態(tài)(氧化態(tài))的定性定量分析, V, As, U和Zn的征XES譜圖,和通過Cr元素征Kα XES譜圖對塑料中重金屬鉻元素的價態(tài)進行分析等等。
圖9. 通過臺式XAFS/XES譜儀測得的P元素征Kα和Kβ軌道能的XES譜圖對InP量子點表面缺陷進行定性和定量分析
圖10. 通過臺式XAFS/XES譜儀測得的Cr, V, As, U, Zn和S的征Kα或Kβ軌道能的XES譜圖對化學(xué)物種元素的價態(tài)進行定性和定量分析
XAFS技術(shù)在電池材料,尤其是正材料,在充放電過程中化學(xué)態(tài)的分析,有著重要的意義,可以幫助科學(xué)家們了解電材料的制備過程,電池組裝,運行條件等因素對其化學(xué)態(tài)的影響,有于人們更深入地了解電池的工作原理,化電池結(jié)構(gòu)的設(shè)計。如圖11所示,采用easyXAFS公司生產(chǎn)的臺式XAFS/XES譜儀,科學(xué)家們能夠方便的通過XANES技術(shù)對系列電材料的化學(xué)態(tài)進行分析,包括充電和放電態(tài),如LiCoO2, VOPO4, NMC(鎳錳鈷三元電材料)等等。
圖11. 通過臺式XAFS/XES譜儀的不同材料中定元素的XANES或Kα軌道能的XES譜圖來對化學(xué)物種元素(Co, V, Ni, etc.)的價態(tài)進行定性和定量分析
近年來原位測試技術(shù)越來越受到大家的關(guān)注,對不同物理化學(xué)過程中材料的物理化學(xué)性能進行原位的表征,更加深入的獲得材料的實時結(jié)構(gòu)信息。美國easyXAFS公司的臺式XAFS/XES譜儀為原位進行樣品目標原子的近鄰化學(xué)結(jié)構(gòu)信息表征提供了可能。如圖12所示,通過對鋰電池正材料LiNixMnyCo1-x-yO2在不同充放電狀態(tài)下的XANES譜圖進行分析,可以很方便的得到在不同充放電狀態(tài)下不同金屬元素Ni, Mn和Co的價態(tài)信息,為進步電池材料和結(jié)構(gòu)的化提供重要的實驗依據(jù)。
圖12. LiNixMnyCo1-x-yO2的化學(xué)結(jié)構(gòu)示意圖以及通過臺式XAFS/XES譜儀測得的金屬Co, Mn和Ni在不同充放電狀態(tài)下的XANES譜圖
[1] G. T. Seidler, D. R. Mortensen, et.al., A laboratory-based hard x-ray monochromator for high-resolution x-ray emission spectroscopy and x-ray absorption near edge structure measurements. Rev. Sci. Instrum. 2014, 85, 113906.
[2] S. K. Padamati, W. R. Browne, et.al., Transient Formation and Reactivity of a High-Valent Nickel(IV) Oxido Complex, J. Am. Chem. Soc. 2017, 139, 8718-8724.
[3] M. E. Mundy, B. M. Cossairt, et.al., Aminophosphines as Versatile Precursors for the Synthesis of Metal Phosphide Nanocrystals, Chem. Mater. 2018, 30, 5373-5379.
[4] E. P. Jahrman, J. R. Sieber, et.al., Determination of Hexavalent Chromium Fractions in Plastics Using Laboratory-Based, High-Resolution X-ray Emission Spectroscopy, Anal. Chem., 2018, 90, 6587-6593.
[5] W. M. Holden, S. Cheah, et.al., Sulfur Speciation in Biochars by Very High Resolution Benchtop Kα X-ray Emission Spectroscopy, J. Phys. Chem. A, 2018, 122, 5153-5161.
[6] J. L. Stein, B. M. Cossairt, et.al., Probing Surface Defects of InP Quantum Dots Using Phosphorus Kα and Kβ X-ray Emission Spectroscopy, Chem. Mater. 2018, 30, 6377-6388.
[7] R. Bès, K. Kvashnina, et al., Laboratory-scale X-ray absorption spectroscopy approach for actinide research: Experiment at the uranium L3-edge, J. Nucl. Mater. 2018, 507, 50-53.
[8] E. P. Jahrman, G. T. Seidler, An Improved Laboratory-Based XAFS and XES Spectrometer for Analytical Applications in Materials Chemistry Research. Rev. Sci. Instrum., 2019, 90, 024106.
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