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真空集成的低溫STM/AFM顯微鏡,解決樣品非原位測試

更新時間:2017-08-09點擊次數(shù):1768

    繼2016年底超高真空無液氦低溫STM/AFM系統(tǒng)PanScan Freedom-LT在中科院物理所張建軍教授實驗室順安裝并通過驗收后,該系統(tǒng)于本月成功與套MBE(分子束外延)系統(tǒng)實現(xiàn)真空互聯(lián)。這是PanScan Freedom-LT第二次在國內(nèi)實現(xiàn)真空集成,凸顯了PanScan Freedom-LT在該方面的顯著勢。這次真空集成設(shè)計和接口模塊均由美國RHK Technology公司提供,充分展現(xiàn)了其在大型真空設(shè)備互聯(lián)方面的豐富經(jīng)驗和用心服務(wù)客戶的良好精神。

互聯(lián)的無液氦低溫STM/AFM(PanScan Freedom-LT)與MBE系統(tǒng) 

    PanScan Freedom-LT因其異的隔振性能,以及無液氦制冷的操作簡便性,非常適合在復(fù)雜超高真空系統(tǒng)中進行集成。即使實驗環(huán)境中有機械泵,分子泵,冷凝泵,以及空氣壓縮機等強噪聲源,PanScan Freedom-LT仍然能夠保持低的噪音水平,得到原子分辨圖像。中科院張建軍教授課題組集成的半導(dǎo)體薄膜MBE以及PanScan Freedom-LT(低溫STM/AFM),具備表面材料zui*的制備和表征手段,是研究薄膜材料和微納器件的強大武器。

     此次真空互聯(lián)解決了樣品非原位傳輸過程中樣品易受外界環(huán)境污染的問題,為獲取高質(zhì)量的實驗結(jié)果提供了有力保證。我們期待張建軍教授課題組在未來的科學(xué)研究工作中取得更大的成就!

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